一鍵式測(cè)量?jī)x的測(cè)量誤差你遇到過(guò)嗎？原因可能在這里

　　一鍵式測(cè)量?jī)x是近十年來(lái)發(fā)展快速的幾何光學(xué)測(cè)量?jī)x器，它一般由機(jī)械、照明、測(cè)長(zhǎng)、圖像采集、計(jì)算機(jī)和測(cè)量軟件等六部分組成。光學(xué)原理與普通投影儀很類(lèi)似，區(qū)別在于被測(cè)件的輪廓影像被CCD傳感器接收并由計(jì)算機(jī)進(jìn)行圖像采集和處理。它能檢測(cè)各種形狀復(fù)雜工件的輪廓和表面形狀尺寸、角度及位置，特別是精密零部件的微觀檢測(cè)與質(zhì)量控制，適用于產(chǎn)品開(kāi)發(fā)、逆向工程、品質(zhì)檢測(cè)等領(lǐng)域。
　　下面我們來(lái)了解下一鍵式測(cè)量?jī)x的誤差來(lái)源。
　　在一鍵式測(cè)量?jī)x上的測(cè)量均是單軸或二維平面坐標(biāo)的測(cè)量，測(cè)量時(shí)先對(duì)焦，后對(duì)準(zhǔn)，再讀數(shù)(計(jì)數(shù))，最后計(jì)算處理。讀數(shù)來(lái)自于標(biāo)尺即光柵系統(tǒng)，對(duì)焦對(duì)準(zhǔn)依靠顯微鏡光學(xué)系統(tǒng)，還有一個(gè)直接影響測(cè)量效果和精度的照明光源，因?yàn)椋谟跋穹椒y(cè)量的儀器，如果被測(cè)件不能被有效正確的照明，則測(cè)量的結(jié)果顯然要偏離其真實(shí)尺寸。
　　除上述因素外，環(huán)境條件也是制約測(cè)量精度不可忽視的因素。基于上述分析，可以歸納出一鍵式測(cè)量?jī)x誤差來(lái)源于以下幾個(gè)方面：
　　1、光柵計(jì)數(shù)尺的誤差；
　　2、工作臺(tái)移動(dòng)時(shí)存在的直線度、角擺帶來(lái)的誤差；
　　3、工作臺(tái)兩測(cè)量軸垂直度帶了的誤差；
　　4、顯微鏡光軸與工作臺(tái)面不垂直帶了的誤差；
　　5、測(cè)量室溫度帶來(lái)的誤差；
　　6、光源照明條件的變化帶來(lái)的對(duì)焦和對(duì)準(zhǔn)誤差。
　　在這幾種因素中，前四項(xiàng)誤差，是硬件誤差，在儀器制造過(guò)程中已經(jīng)形成并固定下來(lái)。一般無(wú)法改變；溫度影響帶來(lái)的誤差，通過(guò)控制測(cè)量室的溫度和等溫過(guò)程來(lái)減小其影響。最后一項(xiàng)則常被忽視，而在實(shí)際測(cè)量中，當(dāng)光源照明條件改變時(shí)，直接影響被測(cè)工件的照明效果和影像質(zhì)量，主要是因?yàn)橐绘I式測(cè)量?jī)x的圖像是通過(guò)CCD接收，盡管CCD具有自動(dòng)調(diào)節(jié)增益的功能，但當(dāng)亮度過(guò)大時(shí)即失去調(diào)節(jié)功能，導(dǎo)致被測(cè)工件影像在縮小，當(dāng)亮度過(guò)低時(shí)，工件影像反而變大。
　　以上就是針對(duì)一鍵式測(cè)量?jī)x的相關(guān)技術(shù)分析，供大家參考！